- 产品描述
- 技术指标
- 应用案例
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产品型号:
KMP-S
设备介绍:
以自主设计的光路结构及奥林巴斯、索莱博光电元件为基础制造;用于磁性材料/自旋电子器件的磁畴成像和动力学研究。
多功能探针台:
● 能够提供面内、垂直磁场及多对直流/高频探针-磁光成像与自旋输运测试完美结合;
● 最大1.4 T垂直磁场,1 T面内磁场,4.2 K-835 K变温,可用于硬磁材料成像研究。
多功能控制系统:
1、测试信号控制:
● 垂直/面内磁场/电流/微波等多路信号μs级别同步施加;
● 各信号的波形、幅度、频率、相对延时等参数轻松调节。
2、图像处理
● 实时作差消背底噪声;
● 自动纠正震动漂移等。
3、信号解析
● 电流、磁场测试信号的实时显示;
● 基于克尔图像分析,对样品局域(225 nm)或全局做磁滞回线扫描。
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主要功能介绍:
成像效果:
● 225 nm(100倍油浸式物镜)/450 nm(长工作距离物镜,兼容探针)
● 最大视野:1.9 mm*1.1 mm(5倍物镜)
● 能检测3个原子层薄膜的磁性变化
CoFeB(1.3 nm)/W(0.2)/CoFeB(0.5)
薄膜中的迷宫畴
图像处理:
以任意图像为背底,实时作差消噪声图像漂移校正,自动添加比例尺等功能
● CoFeB(20 nm)薄膜中,[面内磁场20 mT]驱动磁畴翻转
● W/CoFeB/MgO薄膜中的斯格明子磁泡
CoTb亚铁磁微米线中SOT驱动的磁性翻转
200 nm宽的Ta/CoFeB/MgO线中,[120 mT,5μs]磁场脉冲驱动畴壁移动
磁场探针台:
● 面内磁场:最大1 T,磁场实时探测分辨率50 µT
● 三路垂直磁铁任意切换:
磁场1:最大1.4 T
磁场2:最大30 mT,100 µs上升时间
磁场3:最大磁场≥60 mT,0.5 µs上升时间
● 最多可配置4个直流/高频探针,可配置6221/2182仪表,兼容电输运测试,配置输运与次成像同步软件
其他功能:
● 分析全局或者局部(225 nm)克尔图像,获得磁滞回线
● 磁滞回线的横轴可以为面内、垂直磁场或者电流等任意激励信号
● 可配置变温系统:4.2 K-835 K温度可调
● 搭配磁电阻测量等输运测试系统和软件
● 预留各种接口,可根据实验需求自主改装
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应用案例
①研究磁性材料性质
1.检测磁性材料质量
MgO(sub)/Co/Pt样品:MgO晶体衬底与Co晶格失配导致的薄膜缺陷。
质量不好磁性薄膜,磁性翻转过程中出现雪花状磁畴。
质量优良的磁性薄膜,磁畴结构均匀,边缘光滑。
2.检测缺陷位置
缺陷处,磁畴壁运动变形,形成钉扎效应。利用高分辨率物镜,可以直接观察缺陷位置(红圈)
3.自旋电子器件损伤检测
自旋电子器件中,在微加工过程中,样品边缘出现损伤,导致在磁场作用下稳定性下降,边缘首先出现翻转[1]。
4.解析磁滞回线结果
磁光克尔显微镜由于具有空间分辨优势,可以解析磁滞回线对应的磁畴状态。如左图,由于偶极作用比各向异性占优势,样品出现自发退磁。
[1]Yu Zhang et al.Phys.Rev.Appl.9,064027(2018).
[2]Xueying Zhang et al.,Advanced Science 8,2004645(2021).
②典型应用——局部磁本征参数表征
克尔显微镜有一套表征几乎所有磁学本征参数的方法。与其它表征方法相比,最大的优势是可以进行微小区域内(220 nm)的局部性质表征,为各种磁性调控实验(如辐照、压控、光控磁)、以及性质不均一的材料表征提供了可能性。
● 局部饱和磁化强度MS表征
由于偶极作用,磁畴壁在靠近时会相互排斥。通过观察不同磁场下畴壁的距离,可以提取局部区域的饱和磁化强度MS。此方法由巴黎-萨克雷大学Nicolas Vernier教授(本公司技术顾问)在2014年首先提出并验证。与VSM测量结果得到良好吻合[1]。
● 局部各向异性能K的表征
通过分析局域克尔图像明暗变化,可以获得磁滞回线,从而提取局部区域等效各向异性场强度。
● 海森堡交换作用常数Aex
将样品震荡退磁,再将得到的迷宫畴图片进行傅里叶变换,能够精确得知磁畴宽度,从而提取海森堡交换作用刚度[2]。
需要已知样品的饱和磁化强度与各向异性,可通过振动样品磁强计测量获得。
退磁状态下的薄膜材料的磁畴结构
● Dzyaloshinskii-Moriya作用(DMI)的表征
利用面内磁场和垂直磁场共同作用下的磁畴壁非对称性扩张,能够测量薄膜材料的DMI作用强度。基于此款设备的得到的成果发表在Nanoscale杂志[3]。
[1]N.Vernier et al.,Appl.Phys.Lett.104,122404(2014).
[2]M.Yamanouchi et al.,IEEE Magn.Lett.2,3000304(2011).
[3]Anni Cao et al.,Nanoscale 10,12062(2018).
③磁畴壁动力学研究
1.磁场、电流或者其它激励下磁畴壁的移动速度测量
方法:
施加幅度为B,宽度为t的磁场/电流脉冲,在脉冲前后分别拍摄克尔图像并作差,获得畴壁移动距离d,则速度v=d/t。
备注:
有限视野范围内,超快畴壁运动的测量需要超短信号脉冲。本系统配置的μs反应速度的磁场可实现200 m/s畴壁速度的测量
10 ms方波磁场脉冲
4μs超快磁场脉冲
2.磁畴壁张力效应的观测
利用微秒级别超快磁场脉冲,可在微小样品中创造出磁泡。利用此款高分辨率克尔显微镜,首次观察到了磁畴壁在自身张力作用下的自发收缩过程[1-3]。
3.磁畴壁Hall bar处的钉扎作用
利用磁场脉冲,我们精确控制磁畴壁在纳米线中的位置。观察磁畴壁的钉扎过程并测量解钉扎磁场[1]。
[1]Xueying Zhang et al.,Phys.Rev.Appl.9,024032(2018).
[2]Xueying Zhang et al.Nanotechnology 29,365502(2018).
[3]Anni Cao et al.,IEEE Magn.Lett.9,1(2018).
④自旋输运性质测试+成像
1.STT电流驱动的磁畴壁运动
通过配备的探针和主控系统的任意波形发生器,可向样品施加50 ns~s级别的方波,观察磁畴壁运动并测量速度。
2.STT电流与垂直磁场共同作用下的磁畴壁运动
在某些材料中,无法观测到纯电流驱动的磁畴壁运动。这时,可以利用此设备μs级别的超快磁场脉冲与电流同步,观测垂直磁场+电流共同驱动的畴壁运动,从而解析多种物理效应,如重金属/铁磁体系的自旋极化率由于自旋散射降低的效应[1]。
微秒级精确同步的磁场和电流方波脉冲
3.电流与面内磁场共同作用下的磁畴壁运动
Hall自旋流与面内磁场共同作用,诱导磁矩翻转,即所谓的SOT翻转。本设备配置的面内磁场和电学测试系统,不但可以实现这个过程的电学测试,还可以利用相机与信号采集卡同步的功能,逐点解析翻转曲线对应的磁畴状态[2]。
4.输运测试相关介绍
搭配吉时利6221与2182A源表,可以进行霍尔效应、I-V特性(电阻率)及磁电阻(MR)的测量。搭配微波源、微波探针与锁相放大器等,可进行ST-FMR、二次谐波测试,对样品自旋轨道矩大小进行表征。
[1]Xueying Zhang et al.,Phys.Rev.Appl.11,054041(2019).
[2]Xiaoxuan Zhao et al.,Nanotechnology 30,335707(2019).
多功能高分辨率磁光克尔显微成像系统
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