- 产品描述
- 技术指标
- 应用案例
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自旋芯片CP测试机主要面向晶圆片在磁场作用下的快速磁性能或电性能表征,集成了三维磁场发生器和先进的可定制硬件,为磁性芯片(磁传感器和磁存储器)的开发、工艺和生产带来了完整的测试解决方案。通过磁场(面内/垂直)的精确控制测量器件的磁阻特性,可满足MRAM晶圆的磁性能与电性能表征需求。结合脉冲发生模块可测量器件的RV曲线、翻转概率PSW、误码率WER与循环特性等;可测量磁传感芯片偏置特性、工作区间、线性度等参数。
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● 具备磁阻RH、RV特性测量功能,具备脉冲幅值自动标定功能
● 器件翻转概率、误码率、循环特性测量,可进行VCMA测试
● 具备翻转动态测量功能
● 工艺配方可编辑、创建、删除、修改等,操作由用户自定义
● 系统自动记录工艺过程中的重要参数、报警问题等,支持操作日志查询
● 具备数据管理功能,可自动提取回线信息,如翻转磁场、翻转电压等
● 提供管理员、设备工程师、操作员三种用户权限软件界面与测试结果
探针台
● 样品兼容性高:适用于用5”、6”、8”晶圆
● 精度:1.5 μm
● 样品台:X轴300 mm/s Y轴200 mm/s;Z轴全行程37 mm,角度调整范围±5°,满足高达150℃测试需求
● 具备机械臂晶圆转移组件
● 具备空中对针与探卡支持功能,可自动清针
磁场发生组件
● 机械结构:电磁铁可以气动升降,升降重复定位精度优于5 μm,磁场可旋转
● 磁铁电源:3台四象限高稳定直流电源,最高输出功率不低于200 W,支持模拟信号控制
● 磁铁电源输出功率:不低于200 W
● 磁场旋转角度分辨率:1°@3 Hz
● 双通道任意波发生器:2台,具有任意波形生成能力,支持Trueform技术,16位分辨率,20 MHz,满足LAN、GPIB标准
● 磁场探测:满足三轴磁场探测的霍尔探头,输出增益10V/1T,线性精度0.1%,磁场监测精度0.1 mT
● 磁场范围和均匀性:X/Y≥±100 mT,磁场均匀性优于±99%@50 mT@φ1 mm;Z≥±100 mT,磁场均匀性优于±99%@50 mT@ φ1 mm
● 磁场均匀性:提供磁场校准功能,磁场校准后3轴磁场发生偏差值的标准差均≤1% ±0.1 mT@3 Hz
● 磁场发生频率:最高发生频率达到20 Hz
● 兼容性高:磁铁垂直部分可取下,且极头中心具备锥形孔,兼容同轴相机光路
● 可靠安全:磁铁系统具备退磁功能、高温报警和记录
电学测试模块
● 高精度测量仪表和高输出精度源表,保障测试的精准
● 测量仪表:高精度七位半触屏数字台式万用表:直流电压灵敏度:10 nV,电压Max读数1000 V;电阻灵敏度:0.1μΩ,电阻Max读数1 GΩ;直流电流灵敏度:1 pV,电流量程10 μA~10 A
● 数字源表:包含6½位数字分辨率触摸屏数字源表;测量分辨率:10 fA/10 nV;电流源量程:10 nA~±1.05 A;电压源量程:20 mV~±210 V。
● 脉冲模块:双通道高速任意波形发生器,输出幅度达1 Vpp,DAC 14位,2 GHz模拟带宽,每通道2 Gsa存储器。并配置双通道脉冲放大器,放大脉宽200 ps-200 ns,幅值±5 V
● 内置偏置器、射频继电器组件实现多测量模式自动切换
● 电流放大器:增益可变低噪声电流放大器,附带电源适配器,带宽DC~200 MHz,可调AC/DC耦合,可调增益1*102~1*108 V/A
视觉组件
● 配置同轴光照明可变倍率(0.75X至5X倍率可调)同轴显微镜;配置10”液晶显示屏
● 具备调焦位移台:三轴位移台(三轴位移行程为10 mm),实现相机位置调节与对焦
● 具备探针固定平台,紧固于探针台之上。具备3个探针座固定位置,彼此垂直布置,兼容电磁铁升降
● 具备3探针座,探针座调节分辨率:1 μm,导程80 TPI,行程X-Y-Z:各方向位移行程不低于12 mm。配置探针臂,兼容无磁直流探针与射频探针
● 具备仪器控制软件及数据拟合、分析软件。配备了功能强大的控制主机
● 配置2 K分辨率,27英寸显示器
设备特色
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100ms内完成1个循环的磁阻测试
2s内完成,脉冲振幅扫描可至±5V的RV测试
8秒内可完成106个周期的误码率测试中,脉冲宽度200ps至200ns
90s内完成109循环测试
磁电阻RH测试数据(3Hz,10cycles)
RV-VCMA测试结果
RV测试结果
翻转概率与误码率测试结果
不同VCMA电压下的SOT-MRAM器件翻转概率PSW曲线
自旋芯片CP测试机
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