• 自旋芯片CP测试机
自旋芯片CP测试机
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  • 产品描述
  • 技术指标
  • 应用案例
  • 自旋芯片CP测试机主要面向晶圆片在磁场作用下的快速磁性能或电性能表征,集成了三维磁场发生器和先进的可定制硬件,为磁性芯片(磁传感器和磁存储器)的开发、工艺和生产带来了完整的测试解决方案。通过磁场(面内/垂直)的精确控制测量器件的磁阻特性可满足MRAM晶圆的磁性能与电性能表征需求。结合脉冲发生模块可测量器件的RV曲线、翻转概率PSW、误码率WER与循环特性等;可测量磁传感芯片偏置特性、工作区间、线性度等参数。

  • ● 具备磁阻RH、RV特性测量功能,具备脉冲幅值自动标定功能
    ● 器件翻转概率、误码率、循环特性测量,可进行VCMA测试
    ● 具备翻转动态测量功能
    ● 工艺配方可编辑、创建、删除、修改等,操作由用户自定义
    ● 系统自动记录工艺过程中的重要参数、报警问题等,支持操作日志查询
    ● 具备数据管理功能,可自动提取回线信息,如翻转磁场、翻转电压等
    ● 提供管理员、设备工程师、操作员三种用户权限

     

    软件界面与测试结果

     

    探针台

    ● 样品兼容性高:适用于用5”、6”、8”晶圆

    ● 精度:1.5 μm

    ● 样品台:X轴300 mm/s Y轴200 mm/s;Z轴全行程37 mm,角度调整范围±5°,满足高达150℃测试需求

    ● 具备机械臂晶圆转移组件

    ● 具备空中对针与探卡支持功能,可自动清针

     

    磁场发生组件

    ● 机械结构:电磁铁可以气动升降,升降重复定位精度优于5 μm,磁场可旋转

    ● 磁铁电源:3台四象限高稳定直流电源,最高输出功率不低于200 W,支持模拟信号控制

    ● 磁铁电源输出功率:不低于200 W

    ● 磁场旋转角度分辨率:1°@3 Hz

    ● 双通道任意波发生器:2台,具有任意波形生成能力,支持Trueform技术,16位分辨率,20 MHz,满足LAN、GPIB标准

    ● 磁场探测:满足三轴磁场探测的霍尔探头,输出增益10V/1T,线性精度0.1%,磁场监测精度0.1 mT

    ● 磁场范围和均匀性:X/Y≥±100 mT,磁场均匀性优于±99%@50 mT@φ1 mm;Z≥±100 mT,磁场均匀性优于±99%@50 mT@ φ1 mm

    ● 磁场均匀性:提供磁场校准功能,磁场校准后3轴磁场发生偏差值的标准差均≤1% ±0.1 mT@3 Hz

    ● 磁场发生频率:最高发生频率达到20 Hz

    ● 兼容性高:磁铁垂直部分可取下,且极头中心具备锥形孔,兼容同轴相机光路

    ● 可靠安全:磁铁系统具备退磁功能、高温报警和记录

     

     

     

    电学测试模块

    ● 高精度测量仪表和高输出精度源表,保障测试的精准

    ● 测量仪表:高精度七位半触屏数字台式万用表:直流电压灵敏度:10 nV,电压Max读数1000 V;电阻灵敏度:0.1μΩ,电阻Max读数1 GΩ;直流电流灵敏度:1 pV,电流量程10 μA~10 A

    ● 数字源表:包含6½位数字分辨率触摸屏数字源表;测量分辨率:10 fA/10 nV;电流源量程:10 nA~±1.05 A;电压源量程:20 mV~±210 V。

    ● 脉冲模块:双通道高速任意波形发生器,输出幅度达1 Vpp,DAC 14位,2 GHz模拟带宽,每通道2 Gsa存储器。并配置双通道脉冲放大器,放大脉宽200 ps-200 ns,幅值±5 V

    ● 内置偏置器、射频继电器组件实现多测量模式自动切换

    ● 电流放大器:增益可变低噪声电流放大器,附带电源适配器,带宽DC~200 MHz,可调AC/DC耦合,可调增益1*102~1*108 V/A

     

    视觉组件

    ● 配置同轴光照明可变倍率(0.75X至5X倍率可调)同轴显微镜;配置10”液晶显示屏

    ● 具备调焦位移台:三轴位移台(三轴位移行程为10 mm),实现相机位置调节与对焦

    ● 具备探针固定平台,紧固于探针台之上。具备3个探针座固定位置,彼此垂直布置,兼容电磁铁升降

    ● 具备3探针座,探针座调节分辨率:1 μm,导程80 TPI,行程X-Y-Z:各方向位移行程不低于12 mm。配置探针臂,兼容无磁直流探针与射频探针

    ● 具备仪器控制软件及数据拟合、分析软件。配备了功能强大的控制主机

    ● 配置2 K分辨率,27英寸显示器

     

    设备特色

     

  • 100ms内完成1个循环的磁阻测试

    2s内完成,脉冲振幅扫描可至±5V的RV测试

    8秒内可完成106个周期的误码率测试中,脉冲宽度200ps至200ns

    90s内完成109循环测试

     

    磁电阻RH测试数据(3Hz,10cycles)

     

    RV-VCMA测试结果

     

    RV测试结果

     

    翻转概率与误码率测试结果
     

    不同VCMA电压下的SOT-MRAM器件翻转概率PSW曲线

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