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科技创新 资讯前沿
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2024-08
一文带您了解扫描探针显微镜发展史
扫描探针显微镜(Scanning Probe Microscope,SPM)的发展历史是一段引人注目的科学进步历程,奠定了纳米科学和纳米技术的基础。自20世纪80年代以来,SPM的出现和保存,不仅使科学家能够以原子和分子的精度观察和操控材料,还推动了许多相关领域的研究。以下是SPM发展关键里程碑:
2024-08-20
干货!一文了解原子力显微镜
原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是一种常见的扫描探针显微镜,它利用微臂探针与样品原子力之间的相互作用来探测材料表面结构。当探针接近样品时,两者间的作用力会使微悬臂发生偏转或振幅变化。这些微小的变化通过光杠杆放大后被检测系统捕捉并转化为电信号,传递给反馈系统和成像系统(如下图)。通过记录扫描过程中探针的一系列变化,以获得表面形貌结构信息。
扫描探针显微镜——多模式测量
磁力显微镜(Magnetic Force Microscope,MFM)是一种专门用于成像样品表面的磁性分布的扫描探针显微镜,通过探针和样品之间的磁力相互作用来获得信息。
原子力显微镜多环境扫描——液下扫描
原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM)是一种利用微悬臂感受和放大微悬臂上探针针尖与被测样品原子间的作用力,从而对样品表面形貌进行表征的测量设备。其不仅能在空气中以原子级的分辨率生成样品的三维图像,而且在液体环境中也可对样品表面的进行高分辨率成像。
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